HALT試験サービス

HALT試験

サービス内容

HALT試験(Highly Accelerated Limit Test)は、機器に対して仕様を超える温度・振動ストレスを印加して
機器に潜在する「故障の芽」を早期に発見し、改善することによりフィールド不具合の未然防止を図るものです。
アンリツでは、いち早く電子計測器にHALT試験を適応し、製品の信頼性向上の実績を上げます。


蓄積されたHALT試験の分析や対策のノウハウを基に、お客さまの新商品の限界点を見極め弱点あぶり出しを実現します。

※「Limit Test」は従来「Life Test」と記されており、この表現は一般の「寿命試験」のようなものとの誤解を生じさせるもとになっていました。
 最近では「Limit Test」が使用されるようになり、加速試験方法のガイドであるIEC62506:2013でも「Limit Test」が使用されています。

 

経営者の方へ
HALT試験は、開発コストの削減や開発時間の短縮に貢献するなど、経営的な視点のメリットもあります。
詳しくは、こちらのページをご覧ください。

エンジニアの方へ
環境試験との違いは何か、検出できない弱点はあるかなど、HALT試験に関する疑問にお答えします。
詳しくは、こちらのページをご覧ください。

HALT実務者の方へ
すでにHALT試験を実施している中で、このような悩みはありませんでしょうか。
詳しくは、こちらのページをご覧ください。

 

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アンリツカスタマーサポート株式会社 EMCセンター

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